X射線衍射儀也稱為X射線粉末衍射儀，主要是用來測定樣品的物相組成，它依據(jù)粉末衍射文件（PDF）數(shù)據(jù)庫，通過與數(shù)據(jù)庫中的衍射圖譜進(jìn)行比對來鑒定某個晶態(tài)物相是否存在或估計其含量的多少，而對于未知物相難以進(jìn)行測定。對于單晶樣品，將其破碎成粉晶亦可以進(jìn)行分析鑒定。對于樣品要求塊狀、粉末狀都可以，樣品容易制取，測量時間短，物相鑒定相對來說比較簡單、快速。
　　
　　X射線多晶衍射的分析對象是一堆微小單晶的聚集體或稱多晶體，其中的各個微小晶粒的取向是*混亂的，也即各晶粒的同一個晶面族與入射X射線的交角可以是0～90°之間的任一角度，因而能滿足布拉格公式的所有衍射線都會發(fā)生。從粉末衍射譜可以直接得出衍射峰位置、強(qiáng)度和峰形狀等物理量。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一般都是以這三個物理量為基礎(chǔ)的。
　　
　　不同物相的物質(zhì)具有不同的晶體結(jié)構(gòu)，因而會有不同的粉末衍射譜，即衍射峰的位置或?qū)?yīng)的晶面間距與衍射強(qiáng)度不相同。而混合物的粉末衍射譜是各構(gòu)成物相衍射譜的疊加，因而通過將待測樣的譜與各種純物相的譜對比可以對待測樣的相組成進(jìn)行定性分析。由于混合譜中各相的衍射強(qiáng)度與它們在混合物中的含量成正比。故物相分析不僅可定性，還可定量。物相分析是X射線多晶衍射zui被廣泛使用的一種應(yīng)用。
　　
　　利用X射線衍射儀得到的晶面間距和點(diǎn)陣常數(shù)是重要的結(jié)構(gòu)參數(shù)，可用來研究許多問題。晶粒中位錯、層錯、反向疇等缺陷的存在，使點(diǎn)陣發(fā)生畸應(yīng)，產(chǎn)生了微應(yīng)力，還有構(gòu)成材料的微小品粒的尺寸，這些晶體中的微結(jié)構(gòu)都會對衍射峰的峰形發(fā)生影響，因而可以從峰形分析來推測出結(jié)構(gòu)的微結(jié)構(gòu)參數(shù)。在材料的加工過程中，晶粒的某個或幾個晶面的取向會偏聚在宏觀加工的每個方向，這種性質(zhì)稱為擇優(yōu)取向，材料的這種不均勻構(gòu)造稱為織構(gòu)。織構(gòu)會改變材料性能，利用X射線衍射儀可以進(jìn)行織構(gòu)分析。